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Internationales Etalon Forum 3–4. November 2016

Controlling the micron in industry and research

Anlässlich unseres 12-jährigen Bestehens veranstalten wir zusammen mit Kunden und Partnern eine Fachveranstaltung rund um das Thema „Controlling the micron in industry and research“. Das Forum richtet sich an Experten und Entscheidungsträger aus

  • der Werkzeugmaschinen-Industrie und der Fertigungsmesstechnik
  • der Fertigungstechnik im Bereich Aerospace, Automotive und Energy
  • der Wissenschaft mit anspruchsvollen messtechnischen Aufgabenstellungen

Mit dem Forum möchten wir an den Erfolg von 2013 mit über 120 Teilnehmern anknüpfen – jedoch mit einer Änderung: Das Etalon Forum 2016 wird diesmal für deutsche und internationale Kunden in englischer Sprache stattfinden! Wir haben folgendes Programm für Sie zusammengestellt:

Download Programm und die Anmeldunterlagen!

 Program:

Donnerstag, 3. November 13:00–17:30

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12:00 -13:00 Registration

13:00       Dr. H. Schwenke,  Etalon AG:
Welcome

13:15       Dr. D. Imkamp, Zeiss IMT GmbH:
Metrology on the shop floor, where else? – Potentials and Limitations

13:45       E. Schaarschmidt, Siemens AG:
Metrology on machine tools – technical requirements and solutions

14:00       K. Kunis, Siemens AG:
Improvement of machine precision by using kinematic measurement and compensation strategies (VCS)

14:15       U. Warnatz, Fanuc Europe:
Control Technical Solutions for Typical Problems of Machine Tools

14:45       G. Günther, Heidenhain:
Methodically enhance the part accuracy with TNC controller features

15:15       Coffee break

16:00       M. Wennemer, WZL-Aachen:
A case study on a very large machine tool: Systematic deviations & thermo-elastic deformations

16:30       R.Ottone, ISONORM:
ISO 16907: Benefits and limitations of compensation of machine tool’s geometric errors

17:00       C. Hitchens, Nuclear Advanced Manufacturing Centre (NARMC):
Inspection of Large High Value Components In-Process on a Machine Tool Platform

17:30      Dr. H. Schwenke, Etalon AG:
Measurement, Compensation, Monitoring – Good practice and pitfalls

18:00 Ende

 

18:30       Get-Together and Dinner

 


Freitag, 4. November 8:30–12:00

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08:30       M. Peterek, WZL-Aachen:
Advances in Large-Scale Metrology – Technologies and Models for Cyber-Physical Systems

09:00       Dr. K. Kniel, PTB:
Tracebility for large scale metrology

09:30       Prof. A. Reichold,  Oxford University
From academic research to industrial products and back: FSI technology past, present and future

10:00       Dr. H. Schwenke, Etalon AG
An applications driven toolbox for the Absolute Multiline Technology

10:30       Coffee break

11:00       J.-C. Gayde, CERN
Big physics and small tolerances: Metrology challenges and solutions at CERN

11:30       S. Lévêque, ESO
Metrology for the European Extremely Large Telescope

12:00      Wrap-up and Good bye

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Es wird ein Teilnehmerbeitrag von 95 € erhoben.

Download Programm und die Anmeldunterlagen!

 Wir würden uns freuen, Sie in Braunschweig begrüßen zu können!

 
 

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