Anlässlich unseres 12-jährigen Bestehens veranstalten wir zusammen mit Kunden und Partnern eine Fachveranstaltung rund um das Thema „Controlling the micron in industry and research“. Das Forum richtet sich an Experten und Entscheidungsträger aus
Mit dem Forum möchten wir an den Erfolg von 2013 mit über 120 Teilnehmern anknüpfen – jedoch mit einer Änderung: Das Etalon Forum 2016 wird diesmal für deutsche und internationale Kunden in englischer Sprache stattfinden! Wir haben folgendes Programm für Sie zusammengestellt:
Download Programm und die Anmeldunterlagen!
12:00 -13:00 Registration
13:00 Dr. H. Schwenke, Etalon GmbH:
Welcome
13:15 Dr. D. Imkamp, Zeiss IMT GmbH:
Metrology on the shop floor, where else? – Potentials and Limitations
13:45 E. Schaarschmidt, Siemens AG:
Metrology on machine tools – technical requirements and solutions
14:00 K. Kunis, Siemens AG:
Improvement of machine precision by using kinematic measurement and compensation strategies (VCS)
14:15 U. Warnatz, Fanuc Europe:
Control Technical Solutions for Typical Problems of Machine Tools
14:45 G. Günther, Heidenhain:
Methodically enhance the part accuracy with TNC controller features
15:15 Coffee break
16:00 M. Wennemer, WZL-Aachen:
A case study on a very large machine tool: Systematic deviations & thermo-elastic deformations
16:30 R.Ottone, ISONORM:
ISO 16907: Benefits and limitations of compensation of machine tool’s geometric errors
17:00 C. Hitchens, Nuclear Advanced Manufacturing Centre (NARMC):
Inspection of Large High Value Components In-Process on a Machine Tool Platform
17:30 Dr. H. Schwenke, Etalon GmbH:
Measurement, Compensation, Monitoring – Good practice and pitfalls
18:00 Ende
08:30 M. Peterek, WZL-Aachen:
Advances in Large-Scale Metrology – Technologies and Models for Cyber-Physical Systems
09:00 Dr. K. Kniel, PTB:
Tracebility for large scale metrology
09:30 Prof. A. Reichold, Oxford University
From academic research to industrial products and back: FSI technology past, present and future
10:00 Dr. H. Schwenke, Etalon GmbH
An applications driven toolbox for the Absolute Multiline Technology
10:30 Coffee break
11:00 J.-C. Gayde, CERN
Big physics and small tolerances: Metrology challenges and solutions at CERN
11:30 S. Lévêque, ESO
Metrology for the European Extremely Large Telescope
12:00 Wrap-up and Good bye
Es wird ein Teilnehmerbeitrag von 95 € erhoben.
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